| 专利名称： | 陶瓷四边引线片式载体元器件老化测试插座 |
| 公开（告）号： | CN201141874 |
| 公开（公告）日： | 2008-10-29 00:00:00 |
| 申请（专利）号： | 200720109307.0 |
| 申请日： | 2007-05-10 00:00:00 |
| 发明（设计）人： | 曹宏国 |
| (申请)专利权（人）： | 曹宏国 |
| 内容： | 本实用新型涉及一种微电子元器件老化试验插座，尤其能对陶瓷四边引线片式载体元器件可靠性进行高温老化试验和测试的插座。该插座按照44线陶瓷四边引线片式载体元器件结构设计和尺寸要求，将插座设计成插座体、接触件和定位装置三大组成部分，座和盖选用进口耐高温型工程塑料，经高温注塑成型工艺技术制造成插座本体。选用铍青铜材料经冲压成型的簧片，经300℃高温淬火处理及电镀硬金层技术表面镀金为接触件，由轴向对称的44线、 1.27mm细节距结构技术设计成前、后脚对称组成的四面簧片排列组成，分别嵌装于座的四面凹槽中，与被试器件引出线相对应，安装于插座体座上。定位装置由定位板和压块组成，改变了以往“座”定位的形式，同时定位板四个脚上的压簧有很强的弹性力，可达到更好的锁紧效果。 |
发布日期：2008-11-24 16:05:00