专利名称: 高稳定低损耗发射压电陶瓷材料及其制备方法
公开(告)号: CN101462877
公开(公告)日: 2009-06-24 00:00:00
申请(专利)号: CN200810205229.3
申请日: 2008-12-31 00:00:00
发明(设计)人: 中国科学院上海硅酸盐研究所
(申请)专利权(人): 张文斌;张仲猷;董显林
内容:     本发明涉及高稳定低损耗发射压电陶瓷材料及其制备方法,属于电子元器件制造领域。本发明基本化学组成为 xPbTiO3+yPbZrO3+zBaTiO3+wSrTiO3+uCaFeO5/2;复合有fwt.%的Cr2O3和 gwt.%的NiO或Bi2O3;其中0.30≤x≤0.50;0.40≤y≤0.70;0.01≤z≤0.10;0.01≤w ≤0.10;0.0≤u≤0.10;0.01≤f≤0.30;0.01≤f≤0.50。本发明经配料混合、压块成型、预烧、烧结获得的材料的介电常数ε=1200-1400、压电系数d33=280~ 380pC/N、机械品质因数Qm=400~600。本发明具有介电损耗低、晶粒细小、致密度高、机械强度高的特点,温度稳定性好,在超声换能器、特别是在石油声波测井领域具有广阔的应用前景。

发布日期:2009-06-30 20:48:00

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