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| 专利名称： | 陶瓷材料中的余辉的测量和/或判断方法和检测器 |
| 公开（告）号： | CN101523196 |
| 公开（公告）日： | 2009-09-02 00:00:00 |
| 申请（专利）号： | CN200780030252.7 |
| 申请日： | 2007-08-09 00:00:00 |
| 发明（设计）人： | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| (申请)专利权（人）： | C·R·龙达;G·蔡特勒;H·施赖讷马赫尔 |
| 内容： | 本发明涉及陶瓷材料中的余辉的测量和/或判断方法和检测器。具体地说，本发明涉及通过测量Eu-、Tb-和/或Yb-含量来测量和/或判断陶瓷材料，尤其是Gd2O2S材料和/或前体材料中的余辉的方法。
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发布日期：2009-09-18 22:49:00