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| 专利名称： | 陶瓷结构件的检查方法 |
| 公开（告）号： | CN1677099B |
| 公开（公告）日： | 2011-03-16 00:00:00 |
| 申请（专利）号： | CN200510056946.0 |
| 申请日： | 2005-03-24 00:00:00 |
| 发明（设计）人： | 日本碍子株式会社 |
| (申请)专利权（人）： | 加藤茂树 |
| 内容： | 本发明涉及陶瓷结构件检查方法。本发明提供的陶瓷结构件的检查方法，不仅能以非破坏、简便的方式，而且能在短时间内弄清陶瓷结构件内部缺陷的位置和大小，还能把握内部缺陷的正确位置和形状及大小等。该方法是，当沿着陶瓷结构件的整个周边照射X射线，且利用透过的X射线扫描所述陶瓷结构件的全周，测定断层面的X射线吸收系数(CT值)的分布时，照射X射线的X射线管的管电压是400～80kV，且所述X射线管的管电流是2～400mA。 |
发布日期：2011-06-16 11:33:00