专利名称: | 陶瓷电子元件及其制造方法 |
公开(告)号: | CN101180690B |
公开(公告)日: | 2011-06-15 00:00:00 |
申请(专利)号: | CN200680017636.0 |
申请日: | 2006-04-21 00:00:00 |
发明(设计)人: | 株式会社村田制作所 |
(申请)专利权(人): | 小村好浩 |
内容: | 本发明提供静电容量的温度特性好、IR温度依赖性低、可靠性高的陶瓷电子元件及其制造方法。本发明提供的陶瓷电子元件,其特征在于具有电介质层,其中,前述电介质层含有组成式BamTiO2+m(m 是0.995≤m≤1.010、Ba与Ti的比是0.995≤Ba/Ti≤1.010)表示的主要成分,和作为辅助成分的Al氧化物、Si氧化物或R的氧化物(其中 R是选自Sc、Y、La、Ce、Pr、Nd、Pm、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、 Ho、Er、Tm、Yb与Lu中的至少1种,前述Al的氧化物的至少一部分,和前述Si的氧化物或前述R的氧化物的至少一部分,形成与主要由前述主要成分构成的主相不同的2次相。 |
发布日期:2011-06-22 16:14:00