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| 专利名称： | 陶瓷电容失效的防护方法 |
| 公开（告）号： | CN101752106B |
| 公开（公告）日： | 2011-07-06 00:00:00 |
| 申请（专利）号： | CN200910312136.5 |
| 申请日： | 2009-12-23 00:00:00 |
| 发明（设计）人： | 中国航空工业集团公司第六三一研究所; |
| (申请)专利权（人）： | 王勃; 林坚; 叶新艳; 石红; 郭欣; |
| 内容： | 本发明是一种陶瓷电容失效的防护方法，涉及电子设备中陶瓷电容领域，其包括电容筛选、电装加工、三防处理、环境试验，所述的电容筛选过程包括：(1)外观初查；(2)温度循环：将所述合格电容先后置于-55℃和85℃的高低温箱内，分别保持30min，交替循环五次；(3)高温老化：将上述(2)步骤中温度循环过的电容置于85℃的高低温箱内保持48h，通过实时检测电容的漏电流值，判断出电容是否存在裂纹；(4)常温终测：常温下检测电容的漏电流值、耐压值、容值；(5)外观复查。它解决了现有技术中存在的陶瓷电容失效的问题，主要应用于电子设备中陶瓷电容的防护。
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发布日期：2013-07-06 09:13:00