| 专利名称： | 聚焦电位器陶瓷基板自动检测设备 |
| 公开（告）号： | CN2842436 |
| 公开（公告）日： | |
| 申请（专利）号： | 200520035714.2 |
| 申请日： | 2005-10-11 00:00:00 |
| 发明（设计）人： | 四川长虹电器股份有限公司 |
| (申请)专利权（人）： | 张 涛;顾尚林;杨 建 |
| 内容： | 摘要 本实用新型涉及电子元件参数检测设备，特别涉及聚焦电位器陶瓷基板检测设备。本实用新型解决了现有聚焦电位器陶瓷基板检测技术人为干扰严重，数据不准确，检测效率低的问题，公开了一种检测数据精度高，检测效率高的聚焦电位器陶瓷基板自动检测设备。本实用新型的技术方案是：聚焦电位器陶瓷基板自动检测设备，包括供料装置、传送装置、定位装置、检测装置、回收装置及控制器；所述供料装置、传送装置、定位装置、检测装置、回收装置顺序连接；所述控制器分别与供料装置、传送装置、定位装置、检测装置、回收装置连接。本实用新型的有益效果是，检测数据精度高，检测效率高，检测过程自动进行，无需人为干预，不会影响产品质量。 主权项 |
发布日期：2006-12-16 22:22:00