| 专利名称： | 陶瓷无引线片式载体集成电路老化试验插座 |
| 公开（告）号： | CN2824330 |
| 公开（公告）日： | |
| 申请（专利）号： | 200520015469.9 |
| 申请日： | |
| 发明（设计）人： | 曹宏国 |
| (申请)专利权（人）： | 曹宏国 |
| 内容： | 摘要 本实用新型涉及一种微电子元器件老化测试装置，尤其能对陶瓷无引线片式载体集成电路电子元器件进行高温老化试验和测试的老化试验插座。它是由插座体、接触件和紧锁装置三大部分部成。插座体用于被试器件的定位安装，接触件由中心对称1.27细节距32对引线的四排镀金弧形接触件排列组成，与被试器件引出线相对应，并镶嵌于插座体内，锁紧装置由钩、定位销组成，以90°翻转，从而使被试器件转向正确定位与锁紧，并使接触件产生必需的法向力，在高温条件下完成老化试验和测试。 主权项 |
发布日期：2006-10-23 20:57:00