| 专利名称： | 高密度光栅偏振相关自成像的探测方法和装置 |
| 公开（告）号： | CN1858575 |
| 公开（公告）日： | |
| 申请（专利）号： | 200610025925.7 |
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| 发明（设计）人： | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| (申请)专利权（人）： | 周常河;陆云清 |
| 内容： | 摘要 一种高密度光栅偏振相关自成像的探测方法和装置，本发明方法的核心是利用一片1/4波片和一片偏振片精确控制入射光的偏振态，将光栅放在微动平台上，精确控制其位置，然后用纳米开口的光纤扫描不同偏振入射光下的泰伯像，再由计算机进行数据处理，即可获得高密度光栅的偏振相关自成像。其装置包括一激光器，沿该激光器出射的激光束方向依次设1/4波片、偏振片、高密度光栅和头部开口的光纤探针，该高密度光栅放在微动平台上，该微动平台由计算机精确控制在激光束方向的移动，所述的光纤探针由压电陶瓷管驱动进行扫描，所述的光纤探针的尾部经光电探测器与计算机相连。本发明可检测高密度光栅在不同偏振态入射光下的自成像效应，测量精度高。 主权项 |
发布日期：2006-11-10 21:13:00