专利名称: 高频用高介电常数陶瓷
公开(告)号: CN101691299
公开(公告)日: 2010-04-07 00:00:00
申请(专利)号: CN200910153525.8
申请日: 2009-09-30 00:00:00
发明(设计)人: 浙江大学
(申请)专利权(人): 刘小强;陈湘明
内容:     本发明的高频用高介电常数陶瓷,它的成分及其摩尔百分比含量为:La2O3或Nd2O3或Sm2O3:50.0~66.67,SrO或CaO:0.0~16.67,NiO:33.33。该高介电常数陶瓷在3~100MHz的频率下其介电常数达到50,000以上,介电损耗在0.1以下。利用本发明提供的高频用高介电常数陶瓷,可使电容器和存储器等元器件适合更高频率应用,同时由于其极高的介电常数,这也有利于这些元器件的集成化。

发布日期:2010-04-07 02:33:00

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